Top.Mail.Ru
Зондовые станции с 3-осевым манипулятором SEMISHARE серии H купить в каталоге по цене производителя
Оборудование

Зондовые станции с 3-осевым манипулятором SEMISHARE серии H

Получить
H
По серии
Зондовая станция с 3-осевым манипулятором SEMISHARE H12
Зондовая станция с 3-осевым манипулятором SEMISHARE H12
Тип: Зондовая
Производитель: SEMISHARE CO., LTD.
Размер стола держателя образца, мм: 304.8
Диаметр пластины, мм: 305
Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
Заказать
Зондовая станция с 3-осевым манипулятором SEMISHARE H8
Зондовая станция с 3-осевым манипулятором SEMISHARE H8
Тип: Зондовая
Производитель: SEMISHARE CO., LTD.
Размер стола держателя образца, мм: 203.2
Диаметр пластины, мм: 200
Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
Заказать
Зондовая станция с 3-осевым манипулятором SEMISHARE H6
Зондовая станция с 3-осевым манипулятором SEMISHARE H6
Тип: Зондовая
Производитель: SEMISHARE CO., LTD.
Размер стола держателя образца, мм: 152.4
Диаметр пластины, мм: 150
Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
Заказать

Описание

Интегрированные ручные зондовые станции серии H производства компании SEMISHARE представляют собой линейку высокоточных ручных зондовых станций с интегрированной трехступенчатой системой подъема держателей зондов, разработанных для комплексных лабораторных исследований и контроля параметров полупроводниковых пластин, кристаллов и микроэлектронных компонентов. Оборудование предназначено для применения в научно-исследовательских центрах, опытном производстве и при проведении входного контроля. Конфигурация стола обеспечивает работу со стандартными подложками диаметром 150 мм (6"), 200 мм (8"), 305 мм (12").

Особенности

1. Инновационная система перемещения образца на воздушной подушке:

  • Обеспечивает плавность передвижения образца в плоскости X-Y.
  • Позволяет проводить высокоэффективное сканирование всей пластины с последующим точным позиционированием на отдельных кристаллах.
  • Сочетает скорость воздушной подушки с точностью механических систем.

2. Трехступенчатая платформа подъема держателей зондов:

  • Реализует три независимых режима работы: быстрое позиционирование (0 - 300 мкм) + точная настройка (ход 40 мм, разрешение 10 мкм), загрузка образца (5 мм).
  • Обеспечивает повторяемость позиционирования зондов (±1 мкм) и защиту от повреждения образцов и зондов.

3. Модульная конструкция UPStart:

  • Позволяет адаптировать конфигурацию оборудования под задачи Заказчика, например, для работы с миллиметровыми волнами, поиска дефектов, тестирования MEMS-датчиков или оптоэлектронных компонентов.
  • Предусматривает возможное расширение функционала и модернизацию под задачи Заказчика.

4. Усиленная конструкция и прецизионная механика:

  • Жесткая рама из усиленного композита на основе алюминия обеспечивает максимальную стабильность и виброизоляцию.
  • Высокоточные маховики управления с ходом 1 мкм и угловым разрешением 0,002° обеспечивают сверхплавное и точное позиционирование.
  • Электрически изолированный держатель образца с возможностью использования в качестве заднего электрода.

5. Комплексная система вакуумной фиксации:

  • Независимое управление многоканальной вакуумной системой обеспечивает надежную фиксацию образцов различных размеров.
  • Опционально: позолоченные, коаксиальные и трехосные держатели для измерений высокого напряжения и сверхмалых токов (до 100фА).

Таблица поддерживаемых тестов и измерений

Тип теста/устройства

Поддержка

Тип измерения

Поддержка

Тест диодов и транзисторов на уровне пластины

Полная поддержка

Тестирование постоянного тока: ВАХ, CВХ

Полная поддержка

Тест силовых приборов (IGBT, MOSFET)

Полная поддержка

Тестирование постоянного тока и сверхмалых токов класса 100 фА

Полная поддержка

Тестирование MEMS-устройств

Полная поддержка

Тест фликкер-шума 1/f

Полная поддержка

Тестирование оптоэлектронных устройств (LD/VCSEL, PD, LED)

Полная поддержка

Тест анализа отказов

Полная поддержка

Тестирование компонентов печатных плат (PCB)

Полная поддержка

Снятие характеристик устройств

Полная поддержка

Тест LCD-TFT

Полная поддержка

Испытания на надежность на уровне пластины и тесты на старение

Полная поддержка

Тест запоминающих устройств (быстрый импульсный тест)

Полная поддержка

RF-тесты до 67 ГГц

Полная поддержка

Тестирование RF-устройств

Полная поддержка

Тестирование в миллиметровом и субтерагерцовом диапазонах

Полная поддержка

Тест кремниевых оптических устройств

Не поддерживается

Терагерцовое тестирование и тестирование с согласованием нагрузки

Не поддерживается

 

 

Тесты высокой мощности / высокого напряжения / высокого тока

Полная поддержка

 

 

Сверхвысокий вакуум и криогенные тесты

Не поддерживается

 

 

Тесты кремниевой фотоники / световой связи

Не поддерживается

 

 

Фотонный тест VSCEL

Не поддерживается

Основные составляющие станции

Микроскоп

  • Совместим с металлографическим и моноокулярным видеомикроскопом. Оснащен объективом высокой мощности и высокого разрешения для наблюдения на уровне микрон/субмикрон.
  • Светодиодное коаксиальное/кольцевое освещение с высокой контрастностью. Возможна установка лазера для анализа дефектов и лазерной резки.
  • Арочная мостовая конструкция обеспечивает повышенную стабильность и хорошую жесткость.
  • Координатный столик микроскопа позволяет перемещать микроскоп в диапазоне X-Y с точностью перемещения 1 мкм.

Пневматический быстрый подъем микроскопа

  • Ход 50 мм, однокнопочное быстрое управление. Обеспечивает удобство для быстрой замены микроскопа и оснастки для зондовых карт.

Платформа для держателей зондов

  • Увеличенное пространство для установки держателей зондов.
  • Изготовлена из усиленной легированной стали, обладает высокой жесткостью и обеспечивает стабильность крепления.
  • Никелевое покрытие, нанесенное по новой технологии обработки, увеличивает адгезию по сравнению с хромированными аналогами.
  • Возможность установки крепления для зондовой карты

Трехступенчатая платформа подъема держателей зондов

  • Точная регулировка подъема:максимальный ход до 40 мм, точность перемещения до 5 мкм. Предназначена для тестирования с помощью зондовых карт и гнездовых разъемов
  • Функция 2-скоростного быстрого подъема:
    •   Односкоростной быстрый подъем: ход до <30 мм
    •   Быстрый подъем (>6 мм): может быстро отделить зонд или зондовую карту от поверхности образца.

Камера CCD

  • Высокочувствительная CCD/CMOS-камера с интерфейсом C/CS, опции на выбор: 2 Мп/ 5 Мп/ камеры HD-класса (~1.2 Мп), разрешение до 1920×1080 (Full HD) и выше.
  • Интерфейс SD-карты для сохранения изображений и видео.
  • HDMI-кабель для подключения к дисплею и наблюдения в реальном времени.

Держатель образца

  • Образец фиксируется с помощью кольцевой и многоконтурной вакуумной системы крепления, каждый вакуумный канал управляется независимо.
  • Держатель является электрически изолированным (независимая подвеска) и оснащен разъемом типа банан, что позволяет использовать его в качестве заднего электрода.
  • Опционально: многопористый вакуумный держатель стандартных образцов, система высокотемпературного/низкотемпературного термостатирования, а также держатели с коаксиальным/трехосным/позолоченным исполнением.
  • Доступны держатели зондов с различной точностью и ходом; магнитное или вакуумное крепление (опционально).

Управление вакуумными каналами держателя

  • Централизованное расположение и независимое управление вакуумными отверстиями разных каналов.

Пневматический перемещаемый столик (воздушная подушка)

  • Конструкция с механизмом быстрого отвода, обеспечивающая удобную замену образцов и защиту их поверхности от повреждений при тестировании зондовой картой.
  • Одностороннее управление столиком позволяет осуществлять быстрое позиционирование в плоскости X-Y.
  • Столик оснащен функцией точного позиционирования и обладает высокой точностью управления с обратной связью.
  • Точность перемещения по осям XY составляет 1 мкм, перемещение осуществляется без люфта; один полный оборот маховика соответствует ходу в 1 мм.
  • Угол поворота столика:360°.
  • Столик поддерживает точную угловую юстировку с точностью настройки 0,01°.

Технические характеристики

Модель

H6

H8

H12

Размер стола держателя образца, мм

152,4

203,2

304,8

Габаритные размеры (Д×Ш×В), мм

756*759*800

1046*987*828

Масса, кг

260

280

300

Питание, В/ Гц

220, 50-60

Крепление образца (при нормальных условиях)

Кольцевая вакуумная адсорбция (доступна опция пористой адсорбции)

Функция проверки заднего электрода держателя образца (при нормальных условиях)

Да, держатель образца электрически изолирован

Материал стола держателя образца

Нержавеющая сталь 316 / опционально: медь с никелевым или золотым покрытием

Перемещение платформы держателя образца по X-Y, мм

160×160

210×210

310×310

Точность перемещения платформы держателя образца, мкм

<1

Угол поворота платформы для перемещения держателя образца (грубая регулировка), град.

±360

Диапазон точной настройки угла поворота платформы для перемещения держателя образца, град.

±8

Точность настройки угла поворота платформы для перемещения держателя образца, град.

0,002

Быстрый ход подъема платформы для перемещения держателя образца, мм

5

Ход точной позиционной регулировки платформы для перемещения держателя образца, мм

6

Точность позиционирования платформы для перемещения держателя образца, мкм

1

Система быстрого извлечения держателя образца

Не поддерживается

Управление платформой для перемещения держателя образца

Ручное управление маховиками

Размеры платформы для крепления зондов(Д×Ш), мм

510×740

580×1030

Рабочее расстояние (от верхней поверхности держателя образца до нижней поверхности платформы), мм

8

Максимальное количество устанавливаемых зондов

8

Подъем платформы для крепления зондов

3-ступенчатый подъемник: отделение (300 мкм), загрузка (5 мм), непрерывный подъем (0-40 мм)

Крепление зондов

Магнитное или вакуумное

Микроскоп

Стандартно: металлографический микроскоп PSM-1000 , металлографический GX-6/ Опционально: стереоскопический, видео микроскоп

Минимальное увеличение микроскоп, раз

20

Максимальное увеличение микроскопа, раз

2000

Камера микроскопа, Мп

Опционально: 2 (цифр.) /5 (цифр.) /6.5 (цифр.)

Ход перемещения координатного столика микроскопа (XY), мм

50,8

Управление перемещением координатного столика микроскопа (XY)

Регулировка коаксиальным маховиком

Точность тонкой настройки, мкм

Выше 1

Ход микроскопа, мкм

1

Ход зонда по осям X-Y-Z, мм

12×12×12

Механическая точность зонда, мкм

10/2/0,7

Точность измерения тока утечки (Коаксиальный) при 25°C, (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), пА/В

1

Точность измерения тока утечки (Трехосный) при 25°C, (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), фА/В

100

Точность измерения тока утечки (Трехосный) при 3 кВ (25°C), (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), пА

10

Интерфейсы

Разъемы типа банан/ крокодил/ коаксиальный / трехосный интерфейс

Оформить заказ

Для оформления заказа заполните форму и наш инженер свяжется с вами в ближайшее время!
Введите символы с картинки*
WhatsApp