Производитель: SEMISHARE CO., LTD.
Диаметр пластины, мм: 200
Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
Описание
Ручная зондовая станция серии M производства компании SEMISHARE представляет собой лабораторный комплекс для прецизионного электрического контроля и измерения параметров полупроводниковых пластин, кристаллов и микроэлектронных компонентов на этапах НИОКР, опытного производства и входного контроля. Измерительная станция серии M сочетает в себе компактность, мобильность и интуитивно понятное управление. Благодаря оптимальному соотношению точности измерений и цены, эта модель находит широкое применение в исследовательских проектах и научных лабораториях. Станция особо эффективна при тестировании устройств с контактной площадкой (PAD) от 30 мкм для оборудования различного назначения (DC, RF частоты 67 ГГц, MEMS и т.п.)
Особенности
- Конфигурация стола обеспечивает работу со стандартными подложками диаметром 100 мм (4"), 150 мм (6") и 200 мм (8").
- Оснащена микрометрическими винтовыми механизмами (с шагом резьбы до 700 витков на дюйм) ручного позиционирования манипуляторов, что гарантирует плавное и точное (с точностью до единиц микрон) подведение зондов к контактным площадкам без риска повреждения.
- Станция построена по модульному принципу. Базовая комплектация включает виброизолированный стол, манипуляторы и держатель пластины. Конфигурация может быть расширена за счет установки дополнительных манипуляторов (для 4-точечных измерений, измерения RF-параметров), термостата для температурных испытаний (-70°C ... +300°C) или перчаточного бокса для работы с чувствительными к загрязнениям образцами.
- Модульная конструкция UPStart позволяет настраивать конфигурацию под конкретные задачи. Доступны различные опции: столы-держатели, держатели зондов, зонды и микроскопы. Опционально: система виброзащиты и защитный бокс.
- Адаптивное изолирующее основание станции с повышенной эластичностью опор, обеспечивает оптимальное сочетание жесткости и грузоподъемности, что улучшает стабильность испытаний.
- Устанавливается на стандартный лабораторный стол в условиях чистого помещения (Class 1000/10000) или в обычной лаборатории без чистой зоны.
Таблица поддерживаемых тестов и измерений
|
Тип теста/устройства |
Поддержка |
Тип измерения |
Поддержка |
|---|---|---|---|
|
Тест диодов и транзисторов на уровне пластины |
Полная поддержка |
Тест анализа отказов |
Не поддерживается |
|
Тест силовых устройств (IGBT, MOSFET) |
Полная поддержка |
Тестирование характеристик устройств |
Полная поддержка |
|
Тестирование MEMS-устройств |
Полная поддержка |
Испытания на надежность на уровне пластины и тесты на старение |
Полная поддержка |
|
Оптоэлектронные устройства (LD, VCSEL, PD, LED) |
Полная поддержка |
RF-тесты до 67 ГГц |
Полная поддержка |
|
Тестирование компонентов печатных плат (PCB) |
Полная поддержка |
Тестирование в миллиметровом и субтерагерцовом диапазонах |
Не поддерживается |
|
Тест LCD-TFT |
Полная поддержка |
Терагерцовое тестирование и тестирование с согласованием нагрузки |
Не поддерживается |
|
Тест памяти (быстрые импульсы) |
Полная поддержка |
Тестирование кремниевой фотоники и оптического соединения |
Не поддерживается |
|
Тест устройств на 2D-материалах |
Полная поддержка |
Тест высокой мощности/высокого напряжения/высокого тока |
Не поддерживается |
|
RF-устройства |
Полная поддержка |
Термостатирование объекта испытаний |
Частичная поддержка |
|
Тест кремниевых фотонных устройств |
Не поддерживается |
Сверхвысокий вакуум и криогенные тесты |
Не поддерживается |
|
|
|
Тест фликкер-шума 1/f |
Полная поддержка |
|
|
|
Тестирование постоянного тока и сверхмалых токов класса 100 фА |
Полная поддержка |
|
|
|
Тестирование постоянного тока: ВАХ, CВХ, I-t, V-t |
Полная поддержка |
Основные составляющие станции
Стереомикроскоп
- Увеличение окуляра: в 20х
- Коэффициент увеличения объектива: от 0,8 до 5х
- Механизм фокусировки микроскопа: ход перемещения по оси Z 50,8 мм
- Увеличение: 16 … 100х
- Видеомикроскоп (опционально)
- Интерфейс с креплением 0,5х; 1х (опционально)
- Микроскоп сконструирован таким образом, чтобы иметь возможность вращения вокруг стойки обеспечивая быстрое перемещение на 360°
Держатель образца
- 2 вида адсорбции для крепления образцов (петлевая и пористая адсорбции)
- Центральное отверстие для адсорбции стандартного держателя имеет диаметр 1 мм, который может быть изменен в соответствии с техническим заданием Заказчика
- Держатель имеет независимый подвес и разъём типа «банан» для использования в качестве заднего электрода
Регулятор вакуумного прижима
- Каждый вакуумный канал держателя может управляться независимо
Регулировка хода держателя
- На столе держателя предусмотрена удобная возможность регулировки по осям X/Y. Ход держателя в направлении X/Y составляет 4 дюйма, точность: 10 мкм. Все оси оснащены фиксирующими ручками
- Ось X/Y держателя перемещается без зазора, а линейное перемещение при каждом повороте составляет 1 мм
- Угол поворота держателя ±45°, точность регулировки 0,01°
CCD-камера
- Интерфейс HDMI, высокая четкость изображения (2 млн пикселей)
- Разрешение до 1920×1080
- Частота кадров 60 кадров в секунду
- Разъем для SD-карты, позволяет сохранять изображения в формате BMP
- В комплекте HDMI-кабель, что дает возможность подключать камеру к ПК для наблюдения в реальном времени
Различные варианты микропозиционеров
- Магнитное крепление с магнитным выключателем
- Ход перемещения по осям X-Y-Z составляет 12 мм по каждой оси
- Линейное перемещение с помощью микрометрического винта высокой точности
- Регулируемый угол точечного измерения 0–30°
- 3 варианта держателей зондов с разной точностью: 0,1 мкм; 0,7 мкм; 10 мкм
Крепление зонда (опционально)
- Коаксиальное крепление 10 пA,
- Дополнительное трехосевое крепление 100 фA
- Зонды производства GGB (США)
Платформа для микропозиционеров
- Возможность установки до 6-8 микропозиционеров постоянного тока
- Материал из толстой легированной стали обеспечивает стабильность при использовании
- Никелевое покрытие, нанесенное по новой технологии обработки, увеличивает адгезию по сравнению с хромированными аналогами.
- Зонд изготовлен из утолщенной легированной стали, что повышает точность и стабильность тестирования
- Адаптивная виброизолирующая основа POMater
Технические характеристики
|
Модель |
M4 |
M6 |
M8 |
|---|---|---|---|
|
Габаритные размеры (Д×Ш×В), мм |
650×490×620 |
766×500×651 |
|
|
Масса, кг |
45 |
52 |
90 |
|
Питание, В/ Гц |
220/ 50-60 |
||
|
Размер стола держателя образца, мм |
101,6 |
152,4 |
203,2 |
|
Крепление образца (при нормальных условиях) |
Кольцевая вакуумная адсорбция (доступна опция пористой адсорбции) |
||
|
Функция проверки заднего электрода держателя образца (при нормальных условиях) |
Да, держатель образца электрически изолирован |
||
|
Материал стола держателя образца |
Нержавеющая сталь 316 / опционально: медь с никелевым или золотым покрытием |
||
|
Перемещение по X-Y платформы держателя образца, мм |
100×100 |
150x150 |
200x200 |
|
Точность перемещения платформы держателя образца, мкм |
10 |
||
|
Угол поворота платформы держателя образца (грубая регулировка), град. |
±45 |
||
|
Диапазон точной настройки угла поворота платформы для перемещения держателя образца, град. |
±8 |
||
|
Точность настройки угла поворота платформы для перемещения держателя образца, град. |
0,01 |
||
|
Функция быстрого подъема платформы для перемещения держателя образца |
Не поддерживается |
||
|
Система быстрого извлечения держателя образца |
Не поддерживается |
||
|
Управление платформой для перемещения держателя образца |
Точная ручная регулировка |
||
|
Размеры платформы для крепления зондов(Д×Ш), мм |
540×310 |
||
|
Рабочее расстояние (от верхней поверхности держателя образца до нижней поверхности платформы), мм |
8 |
||
|
Максимальное количество устанавливаемых зондов |
6 |
||
|
Подъем платформы для крепления зондов |
Не поддерживается |
||
|
Крепление зондов |
Магнитное или вакуумное |
||
|
Микроскоп |
Стерео (стандартно)/ видео (опционально) |
||
|
Минимальное увеличение микроскопа, раз |
16 |
||
|
Максимальное увеличение микроскопа, раз |
100 |
||
|
Камера микроскопа, Мп |
Опционально: 2 (цифр.) / 8 (цифр.) |
||
|
Угол позиционирования микроскопа, град. |
360 |
||
|
Ход микроскопа по оси Z, мм |
50,8 |
||
|
Настройка точности перемещения микроскопа |
Не поддерживается |
||
|
Настройка способа переключения линз микроскопа |
Не поддерживается |
||
|
Ход зонда по осям X-Y-Z, мм |
12×12×12 |
||
|
Механическая точность зонда, мкм |
10/2/0,7(опционально) |
||
|
Точность измерения тока утечки (Коаксиальный) при 25°C, (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), пА/В |
1 |
||
|
Точность измерения тока утечки (Трехосный) при 25°C, (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), фА/В |
100 |
||
|
Точность измерения тока утечки (Трехосный) при 3 кВ (25°C), (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), пА |
10 |
||
|
Интерфейсы |
Разъемы типа банан/крокодил/коаксиальный/трехосный |
||