Комплекс испытательный для обнаружения посторонних частиц

Каталог

Фильтр

По популярности По алфавиту По цене

комплекс для поиска и фиксирования наличия посторонних частиц

Данный комплекс разработан специально для поиска и фиксирования наличия посторонних частиц в компонентах полупроводниковой электроники, в интегральных схемах и электромагнитных реле.

Испытания с помощью установки проводятся согласно методике, определенной ГОСТ.

Диапазон частот воспроизводимого устройством виброускорения – от 27 до 250 Гц с погрешностью исследования не более 5%. Значение ударного воздействия составляет 200, 500 и 100 g с длительностью силового воздействия до 100 мкс. Сигнал измеряется в диапазоне от 0 до 20 МГц.

Лучшие предложения

- СИРИУС B-250-300 до 1300 °C
  
  По запросу
  
  Подробнее
- СИРИУС А-150-200 до 1600 °C
  
  По запросу
  
  Подробнее
- СИРИУС B-150-200 до 1300 °C
  
  По запросу
  
  Подробнее
- СИРИУС А-250-300 до 1600 °C
  
  По запросу
  
  Подробнее
- СИРИУС А-400-600 до 1600 °C
  
  По запросу
  
  Подробнее
- СИРИУС B-400-600 до 1300 °C
  
  По запросу
  
  Подробнее
- СИРИУС А1-250-300 до 2200 °C
  
  По запросу
  
  Подробнее
- СИРИУС А1-400-600 до 2200 °C
  
  По запросу
  
  Подробнее
- СИРИУС А1-150-200 до 2200 °C
  
  По запросу
  
  Подробнее