Комплекс испытательный для электротермотренировки

Установка производит электротермотренировку радиоэлектронных элементов и аппаратов с целью обнаружения интегральных микросхем с дефектами.

Одновременно устройство может тестировать до 36 плат с микросхемами, при этом одна плата вмещает 64 схемы.

Комплекс может проводить исследования в нестандартном температурном режиме до +150 С, подавая при этом на тестируемые объекты электрические режимы. Установка воспроизводит напряжение DC, испытательные сигналы с последующей подачей на интегральные схемы.

Также прибор может создавать программы тестирований радиоэлектронных элементов в условиях термовоздействия.