Стенд для термотренировки микросхем

Компактный стенд спроектирован для испытания электро- и радио-микросхем в условиях экстремальных температур. Принцип работы прибора заключен в прогреве подложки кристалла интегральной микросхемы.

Диапазон тестовых температур составляет от -30 до +250 градусов.

Испытания проводятся в условиях атмосферного давления. При необходимости возможно изменение температурных данных окружающего пространства с заданной скоростью.

Стенд имеет 6 нагревательных площадок размером 0,9 см на 0,9 см. Скорость измерения температуры составляет три градуса в минуту, при этом погрешность установки температуры минимальна и составляет всего 1 градус.