Камеры ускоренных стрессовых испытаний ERSTVAK серии EVCLIM-HAST

Описание

Камеры ускоренных испытаний EVCLIM-HAST (Highly Аccelerated Stress Test) используется для оценки надёжности продукции или материалов в условиях повышенной влажности и температуры. По сравнению с традиционными испытаниями на тепло, холод и влагу, внутри камеры HAST создается избыточное давление, что позволяет ускорить процессы старения материалов, вызванные воздействием температуры и влажности. Заказчик может минимизировать время, необходимое для проведения испытаний.

Применение

Камеры EVCLIM-HAST применяются для оценки надёжности негерметичных интегральных микросхем (IC) и металлических материалов на воздействие влаги (например, длительное хранение чипов и интегральных микросхем) Оборудование подходит для проведения испытаний HAST на этапе проверки микросхем в негерметичных корпусах при массовом производстве. Камеры делятся на два типа bHAST (без подачи на объект испытаний напряжения смещения) и uHAST (с подачей на объект испытаний напряжения смещения, что приводит к быстрой коррозии).

Камеры ускоренных испытаний EVCLIM-HAST стали стандартом в таких отраслях как производство печатных плат (PCB), полупроводниковой продукции, солнечных батарей, магнитов из редкоземельных металлов и т.п.

Преимущества

• Специальная конструкция рабочей камеры, исключающая выпадения конденсата на объект испытаний
• Встроенные защитные функции, такие как защита от перегрева, избыточного давления, повышенной/недостаточной влажности и т.п.
• Встроенные ПИД регуляторы систем нагрева, увлажнения и создания избыточного давления
• Возможность работы в режимах как насыщенного, так и ненасыщенного пара
• Интеллектуальная система управления: функции экспорта и сохранения данных (кривых) через USB.

Соответствие стандартам испытаний

• IEC60068-2-66: Испытания на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Cx: Влажное тепло в установившемся режиме (ненасыщенный пар под давлением)
• IEC60749-4: Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST)
• JESD22-A102E: Испытание на устойчивость к повышенной температуре (Temperature Cycling, TC)
• JESD22-A110E: Испытание на устойчивость к повышенной температуре и влажности при смещении (Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test, HAST)
• JESD22-A118B: Испытание на устойчивость к повышенной температуре и влажности (Temperature Humidity Bias Life Test, THB)
• JPCA-ET08: Метод испытания печатных плат на устойчивость к термоудару (Thermal Shock Test for Printed Wiring Boards)
• AEC-Q100-Rev-H: Стандарт испытаний для интегральных схем на надежность (Stress Test Qualification for Integrated Circuits)

Технические характеристики