- Главная
- Каталог
- Лабораторное и аналитическое оборудование
- Зондовые станции
Зондовые станции
На этой странице вы можете выбрать зондовые станции — а мы оперативно поможем подобрать подходящую модель и найдем индивидуальное решение для вашей задачи.
ЭРСТВАК предлагает зондовые станции для электрического тестирования полупроводниковых пластин, кристаллов и микроэлектронных компонентов. Мы подготовили краткое описание серий – оно поможет вам сориентироваться в нашем каталоге.
Оборудование SEMISHARE
A – полностью автоматические зондовые станции для массового производства чипов. Выполняют WAT- и CP-тесты с автоматической загрузкой-выгрузкой пластин и высокоточной фокусировкой.
H – ручные зондовые станции с технологией перемещения на воздушной подушке для максимальной стабильности позиционирования. Оснащены трехступенчатой платформой с повторяемостью ±1 мкм и модульной конструкцией для RF-тестирования, поиска дефектов и MEMS-датчиков.
C – вакуумные зондовые станции для тестирования в контролируемых температурных и вакуумных условиях с диапазоном 77K-450K (жидкий азот) или 10K-450K (жидкий гелий). Применяются для исследований чувствительных MEMS-устройств и криогенных приложений.
M – зондовые станции начального уровня для образовательных учреждений и мелкосерийного тестирования. Обеспечивают оптимальный баланс функциональности и доступности.
E – лабораторные зондовые станции с расширенным функционалом для научных исследований и входного контроля. Оснащены магнитным или вакуумным креплением зондов, микроскопом с увеличением до 2000× и опцией камеры до 6,5 Мп.
X – полуавтоматические зондовые станции со скоростью тестирования свыше 70 мм/с для среднесерийного производства и исследований. Поддерживают RF до 67 ГГц, высоковольтное и высокотоковое тестирование.
Фильтры
ЭРСТВАК предлагает зондовые станции для электрического тестирования полупроводниковых пластин, кристаллов и микроэлектронных компонентов. Мы подготовили краткое описание серий – оно поможет вам сориентироваться в нашем каталоге.
Оборудование SEMISHARE
A – полностью автоматические зондовые станции для массового производства чипов. Выполняют WAT- и CP-тесты с автоматической загрузкой-выгрузкой пластин и высокоточной фокусировкой.
H – ручные зондовые станции с технологией перемещения на воздушной подушке для максимальной стабильности позиционирования. Оснащены трехступенчатой платформой с повторяемостью ±1 мкм и модульной конструкцией для RF-тестирования, поиска дефектов и MEMS-датчиков.
C – вакуумные зондовые станции для тестирования в контролируемых температурных и вакуумных условиях с диапазоном 77K-450K (жидкий азот) или 10K-450K (жидкий гелий). Применяются для исследований чувствительных MEMS-устройств и криогенных приложений.
M – зондовые станции начального уровня для образовательных учреждений и мелкосерийного тестирования. Обеспечивают оптимальный баланс функциональности и доступности.
E – лабораторные зондовые станции с расширенным функционалом для научных исследований и входного контроля. Оснащены магнитным или вакуумным креплением зондов, микроскопом с увеличением до 2000× и опцией камеры до 6,5 Мп.
X – полуавтоматические зондовые станции со скоростью тестирования свыше 70 мм/с для среднесерийного производства и исследований. Поддерживают RF до 67 ГГц, высоковольтное и высокотоковое тестирование.
- Размер стола держателя образца, мм: 101.6
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
- Размер стола держателя образца, мм: 152.4
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
- Размер стола держателя образца, мм: 203.2
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
- Размер стола держателя образца, мм: 101.6
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
- Размер стола держателя образца, мм: 152.4
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
- Размер стола держателя образца, мм: 203.2
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
- Размер стола держателя образца, мм: 304.8
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
- Размер стола держателя образца, мм: 152.4
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
- Размер стола держателя образца, мм: 203.2
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
- Размер стола держателя образца, мм: 304.8
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 3
- Размер стола держателя образца, мм: 152.4
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 0.5
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 1.5
- Размер стола держателя образца, мм: 203.2
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 0.5
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 1.5
- Размер стола держателя образца, мм: 304.8
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 0.5
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 1.5
- Размер стола держателя образца, мм: 152.4
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 0.1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 1.5
- Размер стола держателя образца, мм: 203.2
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 0.1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 1.5
- Размер стола держателя образца, мм: 304.8
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 0.1
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 1.5
- Размер стола держателя образца, мм: 152.4
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 0.5
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 1
- Размер стола держателя образца, мм: 203.2
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 0.5
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 1
- Размер стола держателя образца, мм: 304.8
- Минимальный шаг позиционирования, мкм: 0.5
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм: 0.5
