- Главная
- Каталог
- Лабораторное и аналитическое оборудование
- Зондовые станции
- Зондовая станция с функциями нагрева и охлаждения SEMISHARE C8
Зондовая станция с функциями нагрева и охлаждения SEMISHARE C8
Зондовая станция с функциями нагрева и охлаждения SEMISHARE
предназначена для электрического тестирования полупроводниковых пластин, кристаллов и электронных компонентов в контролируемых температурных условиях. Оборудование позволяет проводить измерения при повышенных и пониженных температурах, что необходимо для оценки стабильности характеристик устройств, исследования температурных зависимостей и проведения испытаний на надежность.Станции данного типа применяются в полупроводниковой промышленности, научно-исследовательских центрах и лабораториях для тестирования интегральных схем, силовых полупроводниковых приборов, MEMS-устройств, оптоэлектронных компонентов и материалов микроэлектроники. Возможность точного управления температурой образца позволяет моделировать реальные условия эксплуатации изделий и получать достоверные результаты измерений в широком диапазоне температур.
- Тип
- Ручная
- Производитель
- SEMISHARE
- Серия
- C
- Страна
- Китай
- Длина, мм
- 880
- Высота, мм
- 750
- Ширина, мм
- 860
- Максимальная рабочая температура, °C
- 300
- Диаметр пластины, мм
- 200
- Размер стола держателя образца, мм
- 203.2
- Тип держателя образца (опционально)
- Высоковольтный держатель для высоких и низких температур
- Функция проверки заднего электрода держателя образца (при нормальных условиях)
- Да, держатель образца электрически изолирован
- Перемещение по X-Y платформы держателя образца, мм
- 200 × 200
- Точность перемещения платформы держателя образца, мкм
- 1
- Минимальный шаг позиционирования, мкм
- 0.5
- Угол поворота платформы для держателя образца (грубая регулировка), ±град
- 360
- Максимальное количество устанавливаемых зондов
- 8
- Микроскоп
- Опционально: стереоскопический, видео микроскоп, металлографический микроскоп с большим рабочим расстоянием GX-7
- Минимальное увеличение микроскопа, раз
- 16
- Максимальное увеличение микроскопа, раз
- 100
- Камера микроскопа (опционально), Мп
- 5 (цифр.)
- Ход перемещения координатного столика микроскопа (XY), мм
- 50.8
- Ход зонда по осям X-Y-Z, мм
- 8 × 8 × 8
- Точность контроля температуры, °C
- 0.01
- Повторяемость держателя образца по XY, ±мкм
- 1.5
- Минимальная рабочая температура, °C
- -80