- Главная
- Производители
- SEMISHARE
- Зондовые станции SEMISHARE
- Зондовые станции с 3-осевым манипулятором SEMISHARE серии H
Зондовые станции с 3-осевым манипулятором SEMISHARE серии H
Описание Интегрированные ручные зондовые станции серии H производства компании SEMISHARE представляют собой линейку высокоточных ручных зондовых стан...
Зондовые станции с 3-осевым манипулятором SEMISHARE серии H
Описание
Интегрированные ручные зондовые станции серии H производства компании SEMISHARE представляют собой линейку высокоточных ручных зондовых станций с интегрированной трехступенчатой системой подъема держателей зондов, разработанных для комплексных лабораторных исследований и контроля параметров полупроводниковых пластин, кристаллов и микроэлектронных компонентов. Оборудование предназначено для применения в научно-исследовательских центрах, опытном производстве и при проведении входного контроля. Конфигурация стола обеспечивает работу со стандартными подложками диаметром 150 мм (6"), 200 мм (8"), 305 мм (12").
Особенности
1. Инновационная система перемещения образца на воздушной подушке:
- Обеспечивает плавность передвижения образца в плоскости X-Y.
- Позволяет проводить высокоэффективное сканирование всей пластины с последующим точным позиционированием на отдельных кристаллах.
- Сочетает скорость воздушной подушки с точностью механических систем.
2. Трехступенчатая платформа подъема держателей зондов:
- Реализует три независимых режима работы: быстрое позиционирование (0 - 300 мкм) + точная настройка (ход 40 мм, разрешение 10 мкм), загрузка образца (5 мм).
- Обеспечивает повторяемость позиционирования зондов (±1 мкм) и защиту от повреждения образцов и зондов.
3. Модульная конструкция UPStart:
- Позволяет адаптировать конфигурацию оборудования под задачи Заказчика, например, для работы с миллиметровыми волнами, поиска дефектов, тестирования MEMS-датчиков или оптоэлектронных компонентов.
- Предусматривает возможное расширение функционала и модернизацию под задачи Заказчика.
4. Усиленная конструкция и прецизионная механика:
- Жесткая рама из усиленного композита на основе алюминия обеспечивает максимальную стабильность и виброизоляцию.
- Высокоточные маховики управления с ходом 1 мкм и угловым разрешением 0,002° обеспечивают сверхплавное и точное позиционирование.
- Электрически изолированный держатель образца с возможностью использования в качестве заднего электрода.
5. Комплексная система вакуумной фиксации:
- Независимое управление многоканальной вакуумной системой обеспечивает надежную фиксацию образцов различных размеров.
- Опционально: позолоченные, коаксиальные и трехосные держатели для измерений высокого напряжения и сверхмалых токов (до 100фА).
Таблица поддерживаемых тестов и измерений
|
Тип теста/устройства |
Поддержка |
Тип измерения |
Поддержка |
|---|---|---|---|
|
Тест диодов и транзисторов на уровне пластины |
Полная поддержка |
Тестирование постоянного тока: ВАХ, CВХ |
Полная поддержка |
|
Тест силовых приборов (IGBT, MOSFET) |
Полная поддержка |
Тестирование постоянного тока и сверхмалых токов класса 100 фА |
Полная поддержка |
|
Тестирование MEMS-устройств |
Полная поддержка |
Тест фликкер-шума 1/f |
Полная поддержка |
|
Тестирование оптоэлектронных устройств (LD/VCSEL, PD, LED) |
Полная поддержка |
Тест анализа отказов |
Полная поддержка |
|
Тестирование компонентов печатных плат (PCB) |
Полная поддержка |
Снятие характеристик устройств |
Полная поддержка |
|
Тест LCD-TFT |
Полная поддержка |
Испытания на надежность на уровне пластины и тесты на старение |
Полная поддержка |
|
Тест запоминающих устройств (быстрый импульсный тест) |
Полная поддержка |
RF-тесты до 67 ГГц |
Полная поддержка |
|
Тестирование RF-устройств |
Полная поддержка |
Тестирование в миллиметровом и субтерагерцовом диапазонах |
Полная поддержка |
|
Тест кремниевых оптических устройств |
Не поддерживается |
Терагерцовое тестирование и тестирование с согласованием нагрузки |
Не поддерживается |
|
|
|
Тесты высокой мощности / высокого напряжения / высокого тока |
Полная поддержка |
|
|
|
Сверхвысокий вакуум и криогенные тесты |
Не поддерживается |
|
|
|
Тесты кремниевой фотоники / световой связи |
Не поддерживается |
|
|
|
Фотонный тест VSCEL |
Не поддерживается |
Основные составляющие станции
Микроскоп
- Совместим с металлографическим и моноокулярным видеомикроскопом. Оснащен объективом высокой мощности и высокого разрешения для наблюдения на уровне микрон/субмикрон.
- Светодиодное коаксиальное/кольцевое освещение с высокой контрастностью. Возможна установка лазера для анализа дефектов и лазерной резки.
- Арочная мостовая конструкция обеспечивает повышенную стабильность и хорошую жесткость.
- Координатный столик микроскопа позволяет перемещать микроскоп в диапазоне X-Y с точностью перемещения 1 мкм.
Пневматический быстрый подъем микроскопа
- Ход 50 мм, однокнопочное быстрое управление. Обеспечивает удобство для быстрой замены микроскопа и оснастки для зондовых карт.
Платформа для держателей зондов
- Увеличенное пространство для установки держателей зондов.
- Изготовлена из усиленной легированной стали, обладает высокой жесткостью и обеспечивает стабильность крепления.
- Никелевое покрытие, нанесенное по новой технологии обработки, увеличивает адгезию по сравнению с хромированными аналогами.
- Возможность установки крепления для зондовой карты
Трехступенчатая платформа подъема держателей зондов
- Точная регулировка подъема:максимальный ход до 40 мм, точность перемещения до 5 мкм. Предназначена для тестирования с помощью зондовых карт и гнездовых разъемов
- Функция 2-скоростного быстрого подъема:
• Односкоростной быстрый подъем: ход до <30 мм
• Быстрый подъем (>6 мм): может быстро отделить зонд или зондовую карту от поверхности образца.
Камера CCD
- Высокочувствительная CCD/CMOS-камера с интерфейсом C/CS, опции на выбор: 2 Мп/ 5 Мп/ камеры HD-класса (~1.2 Мп), разрешение до 1920×1080 (Full HD) и выше.
- Интерфейс SD-карты для сохранения изображений и видео.
- HDMI-кабель для подключения к дисплею и наблюдения в реальном времени.
Держатель образца
- Образец фиксируется с помощью кольцевой и многоконтурной вакуумной системы крепления, каждый вакуумный канал управляется независимо.
- Держатель является электрически изолированным (независимая подвеска) и оснащен разъемом типа банан, что позволяет использовать его в качестве заднего электрода.
- Опционально: многопористый вакуумный держатель стандартных образцов, система высокотемпературного/низкотемпературного термостатирования, а также держатели с коаксиальным/трехосным/позолоченным исполнением.
- Доступны держатели зондов с различной точностью и ходом; магнитное или вакуумное крепление (опционально).
Управление вакуумными каналами держателя
- Централизованное расположение и независимое управление вакуумными отверстиями разных каналов.
Пневматический перемещаемый столик (воздушная подушка)
- Конструкция с механизмом быстрого отвода, обеспечивающая удобную замену образцов и защиту их поверхности от повреждений при тестировании зондовой картой.
- Одностороннее управление столиком позволяет осуществлять быстрое позиционирование в плоскости X-Y.
- Столик оснащен функцией точного позиционирования и обладает высокой точностью управления с обратной связью.
- Точность перемещения по осям XY составляет 1 мкм, перемещение осуществляется без люфта; один полный оборот маховика соответствует ходу в 1 мм.
- Угол поворота столика:360°.
- Столик поддерживает точную угловую юстировку с точностью настройки 0,01°.
Технические характеристики
|
Модель |
H6 |
H8 |
H12 |
|---|---|---|---|
|
Размер стола держателя образца, мм |
152,4 |
203,2 |
304,8 |
|
Габаритные размеры (Д×Ш×В), мм |
756*759*800 |
1046*987*828 |
|
|
Масса, кг |
260 |
280 |
300 |
|
Питание, В/ Гц |
220, 50-60 |
||
|
Крепление образца (при нормальных условиях) |
Кольцевая вакуумная адсорбция (доступна опция пористой адсорбции) |
||
|
Функция проверки заднего электрода держателя образца (при нормальных условиях) |
Да, держатель образца электрически изолирован |
||
|
Материал стола держателя образца |
Нержавеющая сталь 316 / опционально: медь с никелевым или золотым покрытием |
||
|
Перемещение платформы держателя образца по X-Y, мм |
160×160 |
210×210 |
310×310 |
|
Точность перемещения платформы держателя образца, мкм |
<1 |
||
|
Угол поворота платформы для перемещения держателя образца (грубая регулировка), град. |
±360 |
||
|
Диапазон точной настройки угла поворота платформы для перемещения держателя образца, град. |
±8 |
||
|
Точность настройки угла поворота платформы для перемещения держателя образца, град. |
0,002 |
||
|
Быстрый ход подъема платформы для перемещения держателя образца, мм |
5 |
||
|
Ход точной позиционной регулировки платформы для перемещения держателя образца, мм |
6 |
||
|
Точность позиционирования платформы для перемещения держателя образца, мкм |
1 |
||
|
Система быстрого извлечения держателя образца |
Не поддерживается |
||
|
Управление платформой для перемещения держателя образца |
Ручное управление маховиками |
||
|
Размеры платформы для крепления зондов(Д×Ш), мм |
510×740 |
580×1030 |
|
|
Рабочее расстояние (от верхней поверхности держателя образца до нижней поверхности платформы), мм |
8 |
||
|
Максимальное количество устанавливаемых зондов |
8 |
||
|
Подъем платформы для крепления зондов |
3-ступенчатый подъемник: отделение (300 мкм), загрузка (5 мм), непрерывный подъем (0-40 мм) |
||
|
Крепление зондов |
Магнитное или вакуумное |
||
|
Микроскоп |
Стандартно: металлографический микроскоп PSM-1000 , металлографический GX-6/ Опционально: стереоскопический, видео микроскоп |
||
|
Минимальное увеличение микроскоп, раз |
20 |
||
|
Максимальное увеличение микроскопа, раз |
2000 |
||
|
Камера микроскопа, Мп |
Опционально: 2 (цифр.) /5 (цифр.) /6.5 (цифр.) |
||
|
Ход перемещения координатного столика микроскопа (XY), мм |
50,8 |
||
|
Управление перемещением координатного столика микроскопа (XY) |
Регулировка коаксиальным маховиком |
||
|
Точность тонкой настройки, мкм |
Выше 1 |
||
|
Ход микроскопа, мкм |
1 |
||
|
Ход зонда по осям X-Y-Z, мм |
12×12×12 |
||
|
Механическая точность зонда, мкм |
10/2/0,7 |
||
|
Точность измерения тока утечки (Коаксиальный) при 25°C, (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), пА/В |
1 |
||
|
Точность измерения тока утечки (Трехосный) при 25°C, (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), фА/В |
100 |
||
|
Точность измерения тока утечки (Трехосный) при 3 кВ (25°C), (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), пА |
10 |
||
|
Интерфейсы |
Разъемы типа банан/ крокодил/ коаксиальный / трехосный интерфейс |
||
Товары серии H
Готовы подобрать идеальное решение для своего производства?