- Главная
- Каталог
- Испытательное оборудование
- Испытательные камеры
- Установки локального термостресса
- Установки локального термостресса ERSTVAK
- Установки локального термостресса настольно типа ERSTVAK серии EVCLIM-ATC
Установки локального термостресса настольно типа ERSTVAK серии EVCLIM-ATC
ЭРСТВАК предлагает настольные установки локального термостресса серии EVCLIM-ATC для быстрой температурной проверки электронных компонентов, плат и малых изделий.
Оборудование подает направленный поток горячего или холодного воздуха на выбранную зону, позволяя выявлять дефекты, температурную нестабильность и слабые элементы.
Серия EVCLIM-ATC удобна для лабораторий, ремонта, R&D и контроля качества, где требуется локальное воздействие без полной климатической камеры.
Фильтры
ЭРСТВАК предлагает настольные установки локального термостресса серии EVCLIM-ATC для быстрой температурной проверки электронных компонентов, плат и малых изделий.
Оборудование подает направленный поток горячего или холодного воздуха на выбранную зону, позволяя выявлять дефекты, температурную нестабильность и слабые элементы.
Серия EVCLIM-ATC удобна для лабораторий, ремонта, R&D и контроля качества, где требуется локальное воздействие без полной климатической камеры.
- Масса, кг: 50
- Производитель: ERSTVAK
- Серия: EVCLIM-ATC
- Страна: Российская Федерация
- Уровень шума, дБ: 52
- Габаритные размеры (ДхШхВ), мм: 440 × 650 × 455
- Масса, кг: 55
- Производитель: ERSTVAK
- Серия: EVCLIM-ATC
- Страна: Российская Федерация
- Уровень шума, дБ: 52
- Габаритные размеры (ДхШхВ), мм: 440 × 650 × 455
- Масса, кг: 58
- Производитель: ERSTVAK
- Серия: EVCLIM-ATC
- Страна: Российская Федерация
- Уровень шума, дБ: 52
- Габаритные размеры (ДхШхВ), мм: 440 × 650 × 455
Установки локального термостресса настольно типа ERSTVAK серии EVCLIM-ATC
Установки локального термостресса серии EVCLIM-ATC предназначена для охлаждения или нагрева объекта испытания до заданной температуры, при этом нагрев или охлаждение осуществляется непосредственно за счет прямого контакта объекта испытаний с термоголовкой. Система подходит для тестирования запаянных чипов, а также чипов, питание на которые подается через розетку. При этом, за счет специфического контакта объекта испытаний с периферийным оборудование, система не оказывает никакого влияние на периферийное оборудование, что позволяет быстро и надежно оценивать технические характеристики схем в жестких условия эксплуатации во включенном состоянии.
Области применения
- Испытания и анализ характеристик и отказов интегральных микросхем
- Автоматизированное оборудование (ATE), тестирование на системном уровне (SLT) и Workbench
- Замена камер термоудара с механической системой охлаждения
- Возможность термоциклирования объекта испытаний, а также проведение термоудара
- Интеграция в OEM-оборудование
