- Главная
- Производители
- SEMISHARE
- Зондовые станции SEMISHARE
- Лабораторные зондовые станции с расширенным функционалом SEMISHARE серии E
Лабораторные зондовые станции с расширенным функционалом SEMISHARE серии E
Описание Ручная зондовая станция серии E с расширенным набором функций производства компании SEMISHARE представляет собой лабораторный комплекс для п...
Лабораторные зондовые станции с расширенным функционалом SEMISHARE серии E
Описание
Ручная зондовая станция серии E с расширенным набором функций производства компании SEMISHARE представляет собой лабораторный комплекс для прецизионных исследований и контроля параметров полупроводниковых пластин, кристаллов и микроэлектронных компонентов на этапах НИОКР, опытного производства и входного контроля. Станция особо эффективна при тестировании устройств с контактной площадкой (PAD) от 1 мкм при работе с оборудованием различного назначения (тестирование на уровне пластины, MEMS, оптоэлектронные испытания и т.п.).
Особенности
- Модульная конструкция UPStar обеспечивает настройку конфигурации под задачи Заказчика, что позволяет адаптировать систему с минимальными затратами, включая интеграцию решений для ВЧ/КВЧ-тестирования (до 67 ГГц), анализа дефектов, тестирования MEMS и оптоэлектронных устройств.
- Линейка имеет расширенную совместимость с образцами. Она представлена моделями E4, E6, E8 и E12, поддерживающими работу со стандартными подложками диаметром от 4 до 12 дюймов, что охватывает потребности как современных, так и перспективных производственных процессов.
- Станция оснащена высокоточными механизмами перемещения:
- Плавное безлюфтовое перемещение стола по осям X-Y с точностью позиционирования 10 мкм
- Точная угловая ориентация образца с возможностью грубого поворота на 360° и точной юстировки с шагом 0,002°.
- Широкий выбор держателей зондов с механической точностью позиционирования от 0,7 мкм до 10 мкм.
- Комплексная система фиксации и электрических измерений:
- Многоканальная вакуумная система фиксации образца с независимым управлением каналами.
- Электрически изолированный держатель с вынесенным разъемом типа банан, позволяющий использовать его в качестве заднего электрода.
- Поддержка коаксиальных и трехосных интерфейсов для измерений сверхмалых токов (до 100 фА) и высоких напряжений (до 3 кВ).
- Расширенный оптико-визуальный комплекс:
- Базовая комплектация включает металлографический микроскоп с увеличением до 2000X для работы с объектами размером от 1 мкм.
- Опциональная установка лазерного модуля для проведения анализа дефектов и лазерной резки.
- Высококачественные ССD/CMOS камеры (до 6,5 Мп) с интерфейсами HDMI и SD-карты для документирования результатов.
- Адаптивное изолирующее основание станции с повышенной эластичностью опор обеспечивает оптимальное сочетание жесткости и грузоподъемности, что улучшает стабильность испытаний.
- Усиленная несущая платформа U-образной конфигурации, изготовленная из легированной стали, позволяет устанавливать до десяти держателей зондов.
- Пневматический быстрый подъем микроскопа обеспечивает легкий доступ для смены микроскопа и оснастки держателя образца.
Таблица поддерживаемых тестов и измерений
|
Тип теста/устройства |
Поддержка |
Тип измерения |
Поддержка |
|---|---|---|---|
|
Тест диодов и транзисторов на уровне пластины |
Полная поддержка |
Тестирование постоянного тока: ВАХ, CВХ |
Полная поддержка |
|
Тест силовых приборов (IGBT, MOSFET) |
Полная поддержка |
Тестирование постоянного тока и сверхмалых токов класса 100 фА |
Полная поддержка |
|
Тестирование MEMS-устройств |
Полная поддержка |
Тест фликкер-шума 1/f |
Полная поддержка |
|
Оптоэлектронные устройства (LD, VCSEL, PD, LED) |
Полная поддержка |
RF-тесты до 67 ГГц |
Полная поддержка |
|
Тестирование компонентов печатных плат (PCB) |
Полная поддержка |
Тест анализа отказов |
Полная поддержка |
|
Тест LCD-TFT |
Полная поддержка |
Тестирование характеристик устройств |
Полная поддержка |
|
Тест запоминающих устройств (быстрый импульсный тест) |
Полная поддержка |
Испытания на надежность на уровне пластины и тесты на старение |
Полная поддержка |
|
RF-устройства |
Полная поддержка |
Тестирование в миллиметровом и субтерагерцовом диапазонах |
Полная поддержка |
|
Тест кремниевых фотонных устройств |
Не поддерживается |
Терагерцовое тестирование и тестирование с согласованием нагрузки |
Не поддерживается |
|
|
|
Сверхвысокий вакуум и криогенные тесты |
Не поддерживается |
|
|
|
Тест высокой мощности/высокого напряжения/высокого тока, тест при низких температурах |
Не поддерживается |
|
|
|
Тест кремниевой фотоники / световой связи |
Не поддерживается |
|
|
|
Фотонный тест VSCEL |
Не поддерживается |
Основные составляющие станции
Микроскоп
- Совместим с металлографическим микроскопом/моноокулярным видеомикроскопом с объективом высокого увеличения и высокого разрешения для работы на уровне микрон/субмикрон.
- Светодиодное коаксиальное /кольцевое освещение, высокая контрастность. Возможность установки лазера для анализа дефектов/лазерной резки.
- Пневматический быстрый подъем микроскопа и координатный столик (X-Y) позволяют перемещать микроскоп в плоскости X-Y в диапазоне 2×2" с точностью 1 мкм (ход 50 мм). Однокнопочное быстрое управление для легкой и быстрой замены микроскопа и оснастки для зондовых карт. Возможна кастомизация опции наклонного подъема.
Держатель образца
- Для фиксации образца используется центральное и многоконтурное вакуумное крепление, каждый вакуумный канал управляется независимо.
- Держатель имеет электрически независимую подвеску с разъемом типа банан и может использоваться в качестве заднего электрода.
- Опционально: многопористый вакуумный держатель, система с термостатом (высокотемпературный/низкотемпературный); доступны коаксиальные/трехосные/позолоченные держатели
Переключатель управления многоступенчатым вакуумным каналом держателя
- Централизованное расположение и независимое управление разными каналами вакуумных отверстий.
Регулировка хода держателя образца
- На столе держателя образца предусмотрена возможность регулировки по осям X-Y. Ход держателя образца в направлении X-Y составляет 5 мм, точность 10 мкм, все оси оснащены фиксирующими ручками.
- Столик держателя может работать в режиме быстрой регулировки в направлениях X-Y в соответствии с размером держателя с точностью 1 мкм; все оси имеют стопорные винты.
- Ось X-Y держателя образца перемещается без зазора, а линейное перемещение при каждом повороте составляет 1 мм.
- Угол поворота держателя: 360°, точная регулировка угла ±8° с точностью настройки 0,002°.
CCD-камера
- Камера высокого разрешения CCD/CMOS с интерфейсом C/CS-mount на выбор: 2 млн /5 млн /камеры HD-класса (~1.2 Мп).
- Разрешение до 1920×1080 (Full HD) и выше.
- Разъем для SD-карты для сохранения изображений и видео.
- В комплекте HDMI-кабель, что позволяет подключать камеру к ПК для наблюдения в реальном времени.
Различные варианты микропозиционеров
- Магнитное или вакуумное крепление.
- Ход перемещения по осям X-Y-Z составляет 12 мм по каждой оси.
- Регулируемый угол точечного измерения 0–30°.
- 3 варианта держателей зондов с разной точностью: 0,1 мкм; 0,7 мкм; 10 мкм.
- Коаксиальное крепление 10 пA, трехосевое крепление 100 фA (опционально).
- Зонды производства GGB (США).
U-образная платформа для держателей зондов
- Широкое пространство для установки держателей зондов.
- Изготовлена из высококачественной легированной стали повышенной толщины, обладает хорошей жесткостью и обеспечивает стабильное крепление.
- Никелевое покрытие, нанесенное по новой технологии обработки, увеличивает адгезию по сравнению с хромированными аналогами.
- Возможность установки крепления для зондовой карты.
Адаптивная виброизолирующая основа POMater
Технические характеристики
|
Модель |
E4 |
E6 |
E8 |
E12 |
|---|---|---|---|---|
|
Размер стола держателя образца, мм |
101,6 |
152,4 |
203,2 |
304,8 |
|
Габаритные размеры (Д×Ш×В), мм |
680x670x760 |
750x670x800 |
1030x800x850 |
|
|
Масса, кг |
90 |
95 |
110 |
210 |
|
Питание, В/ Гц |
220/ 50-60 |
|||
|
Крепление образца (при нормальных условиях) |
Кольцевая вакуумная адсорбция (доступна опция пористой адсорбции) |
|||
|
Функция проверки заднего электрода держателя образца (при нормальных условиях) |
Да, держатель образца электрически изолирован |
|||
|
Материал стола держателя образца |
Нержавеющая сталь 316 / опционально: медь с никелевым или золотым покрытием |
|||
|
Угол поворота платформы для перемещения держателя образца (грубая регулировка), град. |
360 |
|||
|
Диапазон точной настройки угла поворота платформы для перемещения держателя образца, град. |
±8 |
|||
|
Точность настройки угла поворота платформы для перемещения держателя образца, град. |
0,002 |
|||
|
Быстрый ход подъема платформы для перемещения держателя образца, мм |
5 |
|||
|
Ход точной позиционной регулировки платформы для перемещения держателя образца, мм |
6 |
|||
|
Точность позиционирования платформы для перемещения держателя образца, мкм |
1 |
|||
|
Перемещение по X-Y платформы для перемещения держателя образца, мм |
100x100 |
150x150 |
200x200 |
250x250 |
|
Точность перемещения платформы для перемещения держателя образца, мкм |
10 |
|||
|
Подъем платформы для крепления зондов |
Не поддерживается |
|||
|
Управление платформой для перемещения держателя образца |
Точная ручная регулировка |
|||
|
Размеры платформы для крепления зондов(Д×Ш), мм |
550x405 |
720x405 |
980x480 |
|
|
Рабочее расстояние (от верхней поверхности держателя образца до нижней поверхности платформы), мм |
8 |
|||
|
Максимальное количество держателей для крепления зондов |
6 |
8 |
10 |
|
|
Подъем платформы для крепления зондов |
Не поддерживается |
|||
|
Крепление зондов |
Магнитное или вакуумное |
|||
|
Микроскоп |
Стандартно: металлографический микроскоп PSM-1000 / опционально: металлографический GX-6, стереоскопический, видеомикроскоп |
|||
|
Минимальное увеличение микроскопа, раз |
20 |
|||
|
Максимальное увеличение микроскопа, раз |
2000 |
|||
|
Камера микроскопа, Мп |
Опционально: 2 (цифр.) /5 (цифр.) /6.5 (цифр.) |
|||
|
Ход перемещения координатного столика микроскопа (XY), мм |
50,8 |
|||
|
Управление перемещением координатного столика микроскопа (XY) |
Регулировка коаксиальным маховиком |
|||
|
Точность тонкой настройки координатного столика микроскопа, мкм |
выше 1 |
|||
|
Ход микроскопа, мкм |
1 |
|||
|
Ход зонда по осям X-Y-Z, мм |
12-12-12 |
|||
|
Механическая точность зонда, мкм |
10 /2 /0,7 (опционально) |
|||
|
Точность измерения тока утечки (Коаксиальный) при 25°C, (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), пА/В |
1 |
|||
|
Точность измерения тока утечки (Трехосный) при 25°C, (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), фА/В |
100 |
|||
|
Точность измерения тока утечки (Трехосный) при 3 кВ (25°C), (экранированнная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), пА |
10 |
|||
|
Интерфейсы |
Разъемы типа банан/ крокодил /коаксиальный / трехосный интерфейс |
|||
Товары серии E
Готовы подобрать идеальное решение для своего производства?