Приходите на выставку «Нефтегаз-2026», 2-5 марта Подробнее →

Лабораторные зондовые станции с расширенным функционалом SEMISHARE серии E

Описание Ручная зондовая станция серии E с расширенным набором функций производства компании SEMISHARE представляет собой лабораторный комплекс для п...

Получить консультацию по Лабораторные зондовые станции с расширенным функционалом SEMISHARE серии E
Оставьте контактный номер и с вами свяжется наш инженер

Лабораторные зондовые станции с расширенным функционалом SEMISHARE серии E

Лабораторные зондовые станции с расширенным функционалом SEMISHARE серии E
Описание серии

Описание

Ручная зондовая станция серии E с расширенным набором функций производства компании SEMISHARE представляет собой лабораторный комплекс для прецизионных исследований и контроля параметров полупроводниковых пластин, кристаллов и микроэлектронных компонентов на этапах НИОКР, опытного производства и входного контроля. Станция особо эффективна при тестировании устройств с контактной площадкой (PAD) от 1 мкм при работе с оборудованием различного назначения (тестирование на уровне пластины, MEMS, оптоэлектронные испытания и т.п.).

Особенности

  1. Модульная конструкция UPStar обеспечивает настройку конфигурации под задачи Заказчика, что позволяет адаптировать систему с минимальными затратами, включая интеграцию решений для ВЧ/КВЧ-тестирования (до 67 ГГц), анализа дефектов, тестирования MEMS и оптоэлектронных устройств.
  2. Линейка имеет расширенную совместимость с образцами. Она представлена моделями E4, E6, E8 и E12, поддерживающими работу со стандартными подложками диаметром от 4 до 12 дюймов, что охватывает потребности как современных, так и перспективных производственных процессов.
  3. Станция оснащена высокоточными механизмами перемещения:
    • Плавное безлюфтовое перемещение стола по осям X-Y с точностью позиционирования 10 мкм
    • Точная угловая ориентация образца с возможностью грубого поворота на 360° и точной юстировки с шагом 0,002°.
    • Широкий выбор держателей зондов с механической точностью позиционирования от 0,7 мкм до 10 мкм.
  4. Комплексная система фиксации и электрических измерений:
    • Многоканальная вакуумная система фиксации образца с независимым управлением каналами.
    • Электрически изолированный держатель с вынесенным разъемом типа банан, позволяющий использовать его в качестве заднего электрода.
    • Поддержка коаксиальных и трехосных интерфейсов для измерений сверхмалых токов (до 100 фА) и высоких напряжений (до 3 кВ).
  5. Расширенный оптико-визуальный комплекс:
    • Базовая комплектация включает металлографический микроскоп с увеличением до 2000X для работы с объектами размером от 1 мкм.
    • Опциональная установка лазерного модуля для проведения анализа дефектов и лазерной резки.
    • Высококачественные ССD/CMOS камеры (до 6,5 Мп) с интерфейсами HDMI и SD-карты для документирования результатов.
  6. Адаптивное изолирующее основание станции с повышенной эластичностью опор обеспечивает оптимальное сочетание жесткости и грузоподъемности, что улучшает стабильность испытаний.
  7. Усиленная несущая платформа U-образной конфигурации, изготовленная из легированной стали, позволяет устанавливать до десяти держателей зондов.
  8. Пневматический быстрый подъем микроскопа обеспечивает легкий доступ для смены микроскопа и оснастки держателя образца.

Таблица поддерживаемых тестов и измерений

Тип теста/устройства

Поддержка

Тип измерения

Поддержка

Тест диодов и транзисторов на уровне пластины

Полная поддержка

Тестирование постоянного тока: ВАХ, CВХ

Полная поддержка

Тест силовых приборов (IGBT, MOSFET)

Полная поддержка

Тестирование постоянного тока и сверхмалых токов класса 100 фА

Полная поддержка

Тестирование MEMS-устройств

Полная поддержка

Тест фликкер-шума 1/f

Полная поддержка

Оптоэлектронные устройства (LD, VCSEL, PD, LED)

Полная поддержка

RF-тесты до 67 ГГц

Полная поддержка

Тестирование компонентов печатных плат (PCB)

Полная поддержка

Тест анализа отказов

Полная поддержка

Тест LCD-TFT

Полная поддержка

Тестирование характеристик устройств

Полная поддержка

Тест запоминающих устройств (быстрый импульсный тест)

Полная поддержка

Испытания на надежность на уровне пластины и тесты на старение

Полная поддержка

RF-устройства

Полная поддержка

Тестирование в миллиметровом и субтерагерцовом диапазонах

Полная поддержка

Тест кремниевых фотонных устройств

Не поддерживается

Терагерцовое тестирование и тестирование с согласованием нагрузки

Не поддерживается

 

 

Сверхвысокий вакуум и криогенные тесты

Не поддерживается

 

 

Тест высокой мощности/высокого напряжения/высокого тока, тест при низких температурах

Не поддерживается

 

 

Тест кремниевой фотоники / световой связи

Не поддерживается

 

 

Фотонный тест VSCEL

Не поддерживается

Основные составляющие станции

Микроскоп

  • Совместим с металлографическим микроскопом/моноокулярным видеомикроскопом с объективом высокого увеличения и высокого разрешения для работы на уровне микрон/субмикрон.
  • Светодиодное коаксиальное /кольцевое освещение, высокая контрастность. Возможность установки лазера для анализа дефектов/лазерной резки.
  • Пневматический быстрый подъем микроскопа и координатный столик (X-Y) позволяют перемещать микроскоп в плоскости X-Y в диапазоне 2×2" с точностью 1 мкм (ход 50 мм). Однокнопочное быстрое управление для легкой и быстрой замены микроскопа и оснастки для зондовых карт. Возможна кастомизация опции наклонного подъема.

Держатель образца

  • Для фиксации образца используется центральное и многоконтурное вакуумное крепление, каждый вакуумный канал управляется независимо.
  • Держатель имеет электрически независимую подвеску с разъемом типа банан и может использоваться в качестве заднего электрода.
  • Опционально: многопористый вакуумный держатель, система с термостатом (высокотемпературный/низкотемпературный); доступны коаксиальные/трехосные/позолоченные держатели

Переключатель управления многоступенчатым вакуумным каналом держателя

  • Централизованное расположение и независимое управление разными каналами вакуумных отверстий.

Регулировка хода держателя образца

  • На столе держателя образца предусмотрена возможность регулировки по осям X-Y. Ход держателя образца в направлении X-Y составляет 5 мм, точность 10 мкм, все оси оснащены фиксирующими ручками.
  • Столик держателя может работать в режиме быстрой регулировки в направлениях X-Y в соответствии с размером держателя с точностью 1 мкм; все оси имеют стопорные винты.
  • Ось X-Y держателя образца перемещается без зазора, а линейное перемещение при каждом повороте составляет 1 мм.
  • Угол поворота держателя: 360°, точная регулировка угла ±8° с точностью настройки 0,002°.

CCD-камера

  • Камера высокого разрешения CCD/CMOS с интерфейсом C/CS-mount на выбор: 2 млн /5 млн /камеры HD-класса (~1.2 Мп).
  • Разрешение до 1920×1080 (Full HD) и выше.
  • Разъем для SD-карты для сохранения изображений и видео.
  • В комплекте HDMI-кабель, что позволяет подключать камеру к ПК для наблюдения в реальном времени.

Различные варианты микропозиционеров

  • Магнитное или вакуумное крепление.
  • Ход перемещения по осям X-Y-Z составляет 12 мм по каждой оси.
  • Регулируемый угол точечного измерения 0–30°.
  • 3 варианта держателей зондов с разной точностью: 0,1 мкм; 0,7 мкм; 10 мкм.
  • Коаксиальное крепление 10 пA, трехосевое крепление 100 фA (опционально).
  • Зонды производства GGB (США).

U-образная платформа для держателей зондов

  • Широкое пространство для установки держателей зондов.
  • Изготовлена из высококачественной легированной стали повышенной толщины, обладает хорошей жесткостью и обеспечивает стабильное крепление.
  • Никелевое покрытие, нанесенное по новой технологии обработки, увеличивает адгезию по сравнению с хромированными аналогами.
  • Возможность установки крепления для зондовой карты.

Адаптивная виброизолирующая основа POMater

Технические характеристики

Модель

E4

E6

E8

E12

Размер стола держателя образца, мм

101,6

152,4

203,2

304,8

Габаритные размеры (Д×Ш×В), мм

680x670x760

750x670x800

1030x800x850

Масса, кг

90

95

110

210

Питание, В/ Гц

220/ 50-60

Крепление образца (при нормальных условиях)

Кольцевая вакуумная адсорбция (доступна опция пористой адсорбции)

Функция проверки заднего электрода держателя образца (при нормальных условиях)

Да, держатель образца электрически изолирован

Материал стола держателя образца

Нержавеющая сталь 316 / опционально: медь с никелевым или золотым покрытием

Угол поворота платформы для перемещения держателя образца (грубая регулировка), град.

360

Диапазон точной настройки угла поворота платформы для перемещения держателя образца, град.

±8

Точность настройки угла поворота платформы для перемещения держателя образца, град.

0,002

Быстрый ход подъема платформы для перемещения держателя образца, мм

5

Ход точной позиционной регулировки платформы для перемещения держателя образца, мм

6

Точность позиционирования платформы для перемещения держателя образца, мкм

1

Перемещение по X-Y платформы для перемещения держателя образца, мм

100x100

150x150

200x200

250x250

Точность перемещения платформы для перемещения держателя образца, мкм

10

Подъем платформы для крепления зондов

Не поддерживается

Управление платформой для перемещения держателя образца

Точная ручная регулировка

Размеры платформы для крепления зондов(Д×Ш), мм

550x405

720x405

980x480

Рабочее расстояние (от верхней поверхности держателя образца до нижней поверхности платформы), мм

8

Максимальное количество держателей для крепления зондов

6

8

10

Подъем платформы для крепления зондов

Не поддерживается

Крепление зондов

Магнитное или вакуумное

Микроскоп

Стандартно: металлографический микроскоп PSM-1000 / опционально: металлографический GX-6, стереоскопический, видеомикроскоп

Минимальное увеличение микроскопа, раз

20

Максимальное увеличение микроскопа, раз

2000

Камера микроскопа, Мп

Опционально: 2 (цифр.) /5 (цифр.) /6.5 (цифр.)

Ход перемещения координатного столика микроскопа (XY), мм

50,8

Управление перемещением координатного столика микроскопа (XY)

Регулировка коаксиальным маховиком

Точность тонкой настройки координатного столика микроскопа, мкм

выше 1

Ход микроскопа, мкм

1

Ход зонда по осям X-Y-Z, мм

12-12-12

Механическая точность зонда, мкм

10 /2 /0,7 (опционально)

Точность измерения тока утечки (Коаксиальный) при 25°C, (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), пА/В

1

Точность измерения тока утечки (Трехосный) при 25°C, (экранированная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), фА/В

100

Точность измерения тока утечки (Трехосный) при 3 кВ (25°C), (экранированнная заземленная среда, точка росы ниже -40°C), пА

10

Интерфейсы

Разъемы типа банан/ крокодил /коаксиальный / трехосный интерфейс

Товары серии E

Фрезерный обрабатывающий центр с направляющими качения EMVL-850S
Фрезерный обрабатывающий центр с направляющими качения EMVL-850S
  • Страна: Китай
  • Габариты (ДхШхВ), мм: 2700 × 3000 × 2800
  • Тип направляющих: Качения
  • Система ЧПУ: Siemens/Fanuc
  • Ход по оси X, мм: 800
  • Ход по оси Y, мм: 550
В корзину
1
Мембранный вакуумный насос WELCH MPC 301 Z
Мембранный вакуумный насос WELCH MPC 301 Z
  • Страна: Германия
  • Присоединительный размер: KF16
  • Краткое название: Вакуумный насос WELCH MPC 301 Z
  • Артикул: 412722
  • Габаритные размеры, мм: 230х265х170
  • Производитель: WELCH
В корзину
1
Пластинчато-роторный вакуумный насос ERSTVAK PRM 22 1ph
Пластинчато-роторный вакуумный насос ERSTVAK PRM 22 1ph
  • Страна: Российская Федерация
  • Краткое название: Вакуумный насос ERSTVAK PRM 22 1ph
  • Артикул: PRM 22 1ph
  • Габаритные размеры, мм: 545x172x285
  • Производитель: ERSTVAK
  • Предельное остаточное давление, мбар: 5 × 10^(-3)
В корзину
1
Пластинчато-роторный вакуумный насос ERSTVAK PRM 22 3ph
Пластинчато-роторный вакуумный насос ERSTVAK PRM 22 3ph
  • Страна: Российская Федерация
  • Краткое название: Вакуумный насос ERSTVAK PRM 22 3ph
  • Артикул: PRM 22 3ph
  • Габаритные размеры, мм: 545x172x285
  • Производитель: ERSTVAK
  • Предельное остаточное давление, мбар: 5 × 10^(-3)
В корзину
1
Винтовой вакуумный насос EBARA EV-PA250-GB
Винтовой вакуумный насос EBARA EV-PA250-GB
  • Страна: Япония
  • Краткое название: Вакуумный насос EBARA EV-PA250-GB
  • Артикул: EV-PA250-GB
  • Габаритные размеры, мм: 482x189x278
  • Производитель: Ebara
  • Предельное остаточное давление, мбар: 0.02
В корзину
1
Бустерный вакуумный насос типа Рутс ERSTVAK ERVP 70
Бустерный вакуумный насос типа Рутс ERSTVAK ERVP 70
  • Страна: Российская Федерация
  • Краткое название: Вакуумный насос ERSTVAK ERVP 70
  • Артикул: ERVP 70
  • Производитель: ERSTVAK
  • Предельное остаточное давление, мбар: 5 × 10^(-4)
  • Мощность, кВт: 1.1
В корзину
1
Вакуумный насос EBARA EV-A10-2S
Вакуумный насос EBARA EV-A10-2S
  • Страна: Япония
  • Краткое название: Вакуумный насос EBARA EV-A10-2S
  • Артикул: EV-A10-2S
  • Габаритные размеры, мм: 544x317x344
  • Производитель: Ebara
  • Предельное остаточное давление, мбар: 0.02
В корзину
1
Вакуумный насос EBARA EV-A10-2S-P
Вакуумный насос EBARA EV-A10-2S-P
  • Страна: Япония
  • Краткое название: Вакуумный насос EBARA EV-A10-2S-P
  • Артикул: EV-A10-2S-P
  • Габаритные размеры, мм: 544x317x344
  • Производитель: Ebara
  • Предельное остаточное давление, мбар: 0.02
В корзину
1

Готовы подобрать идеальное решение для своего производства?

Получите бесплатную консультацию нашего инженера уже сегодня!